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蔡司三坐標探針的優(yōu)勢發(fā)布日期：2021-05-28 14:33:19
從目前的狀態(tài)來看，接觸探針和光學探針之間的關系主要是互補的，而不是競爭的。接觸探針和光學探針可以通過哪些方式互補?這一點需要從光學探頭的類型開始。三維光學探頭具有不同的分類，例如點光源，線光源和面光源。不同的探針在其應用場景中具有顯著差異。
我們將光學探頭的應用大致分為兩類：表面數字化和三維測量。有些人忍不住要問：表面數字化和3D測量是一回事嗎?實際上，區(qū)分這兩個應用程序的關鍵是是否生成數字表面模型(Digital Surface Model)，這就是我們通常所說的點云或三角形網格。
當然，在許多實際應用中，生成的數字表面模型也將用于表面或特征元素的測量，但是這種測量模式基于數字零件模型，這與傳統(tǒng)的直接測量特征元素根本不同。
對于表面數字化，目的是獲得零件的表面輪廓，這需要輪廓的大量空間點坐標。對于接觸式探頭，逐點采集方法不能滿足數百萬個點的要求。即使連續(xù)掃描探針，拾取點的速度也會以探針不離開零件表面的方式增加。從本質上講，它仍然是單點集合。在這種類型的應用中，線光源和面光源探針彌補了接觸探針的缺點。線掃描探針可以通過從工件表面上的多個點移動激光來掃描區(qū)域。
探針使用一組編碼的柵格一次獲得特定大小區(qū)域中的點云。在獲得數字表面模型之后，用戶可以將數據用于各種目的，例如與CAD模型進行比較，獲得零件的整體/局部輪廓的偏差，三維尺寸測量或逆向工程等。 ，將這種測量方法用于尺寸和行為公差測量時，通常無法滿足測量過程的要求(例如建立測量標準，選擇元素擬合方法，選擇評估參考等)。但是，某些零件的確需要非接觸式測量，這是因為它們具有特殊的特性，例如柔軟的材料，不允許接觸的表面和小的特征，或者由于測量效率的要求。
對于這種類型的應用，點光源探頭也可以彌補接觸探頭的缺點。實際上，光學探針比接觸探針具有另一個優(yōu)勢。測頭采集點時，測頭記錄測頭中心的空間坐標，然后根據測頭的半徑進行補償，得到實際點的坐標。
但是，在特定位置測量三維曲線時，如果不按照測量點的法線方向進行測量，則會存在半徑補償余弦誤差;如果按照測量點的法線方向進行測量，則會生成實際的測量點位置。有偏差。在測量渦輪葉片時，這種情況尤其常見。
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