新聞中心
ZEISS手持激光三維掃描儀T-Track 20及相關應用發布日期：2023-03-15 10:05:59
近年來，三維激光掃描技術已成功應用于多個制造領域。三維激光掃描可以準確、快速、可靠地采集精確的數據信息。蔡司創新的全激光掃描解決方案以全新的面貌增強了其高性能、用戶友好性和靈活性。蔡司新型手持式激光3D掃描儀T-Track 20的推出，將快速、直觀、高精度的3D掃描提升到了坐標測量技術的全新水平。
蔡司模塊化激光掃描的卓越特性確保了在廣泛的應用中快速和精確的數據采集。手持式激光三維掃描儀支持廣泛的應用，包括設計，快速原型，快速模具制造和逆向工程，藝術品/歷史文物，考古文物掃描，醫療技術等。
產品亮點：。
改造了一種新的便攜式測量裝置，以補充現有的測量裝置。
使用測量時，不需要粘貼任何參考點和準備工作，如表面處理和支持夾具。
測量手段：
擁有蔡司TSCAN 20設備，不僅可以實現光學產品的非接觸式測量，還可以實現傳統的接觸式檢測。
上一條：蔡司三次元回零如何操作
下一條：蔡司工業測量用于AR/VR檢測